|
|
Conference Publication
|
|
|
|
|
|
%0 Conference Paper %A D. Yakimets %A T. Huynh Bao %A M. Garcia Bardon %A M. Dehan %A N. Collaert %A A. Mercha %A Z. Tokei %A A. Thean %A D. Verkest %A K. De Meyer %T Lateral versus vertical gate-all-around FETs for beyond 7nm technologies %B 72nd Device Research Conference (DRC 2014) %I IEEE %8 Jun. 2014 %P 2
|
|
|
|
|