|
%0 Conference Paper %A B. Parvais %A P. Van Marcke %A H. Mertens %A J. Mitard %A D. Jang %A G. Eneman %A H. Arimura %A O. Richard %A E. Capogreco %A H. Bender %A R. Ritzenthaler %A A. Hikavyy %A R. Loo %A H. Dekkers %A F. Sebaai %A A. Milenin %A N. Horiguchi %A A. Mocuta %A D. Mocuta %A N. Collaert %T An in-depth study of high-performing strained germanium nanowires pFETs %B 38th IEEE Symposium on VLSI Technology, VLSI Technology 2018 %I Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc %8 Oct. 2018 %P 2
|
