|
|
|
|
Journal Publication
|
|
|
|
|
|
|
|
|
%0 Journal Article %A S. Bonaldo %A E. Xia Zhang %A S. E. Zhao %A V. Putcha %A B. Parvais %A D. Linten %A S. Gerardin %A A. Paccagnella %A R. A. Reed %A R. D. Schrimpf %A D. M. Fleetwood %T Total-Ionizing-Dose Effects in InGaAs MOSFETs With High-k Gate Dielectrics and InP Substrates %B IEEE Transactions on Nuclear Science %V 67 %N 7 %P 1312-1319 %8 Jul. 2020
|
|
|
|
|
|
