|
%0 Journal Article %A R. Yasser Gomaa Mohamed Elkashlan %A R. Rodriguez %A S. Yadav %A A. Khaled %A U. Peralagu %A A. Alian %A N. Waldron %A M. Zhao %A P. Wambacq %A B. Parvais %A N. Collaert %T Analysis of Gate-Metal Resistance in CMOS-Compatible RF GaN HEMTs %B IEEE Transactions on Electron Devices %V 67 %N 11 %P 4592-4596 %8 Sep. 2020
|
